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郵編:200434
 

 

   
 
15J 型測量顯微鏡
一、用途:
    15J型測量顯微鏡是光學計量儀器之一種,它的結構簡單,操作方便,適用范圍極廣,主要用途如下:
   1.直角座標中測定長度,例如測定孔距,基面距離,刻線距離,刻線寬度,鍵槽
寬度,狹縫寬度,通孔圓直徑等等。
   2.轉動度盤測定角度,例如對刻度盤,樣板、量規,鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。
  3.用作觀察顯微鏡,以比較檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版,檢驗紡織纖維等.
二、技術規格:
物 鏡
目 鏡
顯微鏡
放大倍數
工作距離
(毫米)
視場直徑
(毫米)
放大倍數
焦距(毫米)
放大倍數
焦距(毫米)
2.5X
43.40
10X
25.00
25X
58.84
5.6
10X
17.13
100X
7.81
1.4
三、測量工作臺讀數裝置主要規格:
    x軸移動測量范圍: 50毫米
    y軸移動測量范圍: 13毫米
    測微器分度值: 0.01毫米
    測量臺轉動范圍: 不限
    測量臺刻度盤分度范圍: 0° - 360°
    測量臺刻度盤之分度值: 1°
    測量臺刻度盤游標讀數示值: 6'
    照明方式:反射光(自然光)
    測量精度:儀器值誤差(5+L/15)微米
    儀器示值誤差:包括測量誤差與儀器系統誤差。
    注:測量地點溫度變化(20 ± 3)C;L—被測件長度(毫米)
    儀器之主要尺寸: 測量臺與物鏡間之最大距離:80毫米
    測量工作臺直徑: 120毫米
    儀器外形尺寸:  高325*長262*寬220毫米
    儀器重量級: 約10.6公斤
    顯微鏡的目鏡管同棱鏡成為一體繞垂軸旋轉,顯微鏡可由調焦手輪進行上下調焦
四、選購件: 1.目鏡:20X
             2.物鏡:4X,5X,20X,40X
   
 

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